Marca: NANBEI
Modelu: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), un strumentu analiticu chì pò esse usatu per studià a struttura di a superficia di materiali solidi, cumpresi insulators.Studia a struttura di a superficia è e proprietà di una sustanza detectendu l'interazzione interatomica estremamente debule trà a superficia di a mostra da pruvà è un elementu sensibile à a microforza.